當(dāng)量法用來測量大于聲束截面的缺陷的尺寸。

脈沖反射法可對缺陷定性、定量和定位。

所謂“幻影回波”，是由于探傷頻率過高或材料晶粒粗大引起的。

工件比較粗糙時，為防止探頭磨損和保護(hù)晶片，宜選用硬保護(hù)膜。

多探頭法是用兩個以上的探頭同時工作的檢測方法。

檢測面準(zhǔn)備的目的是為了保證良好的聲耦合。

縱波斜探頭法的優(yōu)點(diǎn)是工件中既有縱波，又有橫波，因此可同時用縱波和橫波進(jìn)行缺陷檢測。

串列法探傷適用于檢測垂直于探測面的平面缺陷。

單探頭法是反射法，雙探頭法都是穿透法。

雙晶直探頭傾角越大，交點(diǎn)離探測面距離愈遠(yuǎn)，覆蓋區(qū)愈大。