A、缺陷第一次反射波F1波幅高于距離－波幅曲線
B、雙晶探頭檢測(cè)時(shí)，缺陷第一次反射波F1波幅大于或等于顯示屏高度的50%
C、底面第一次反射波B1波幅低于顯示屏高度的50%，即B1＜50%
D、以上都是
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A、全面掃查
B、列線掃查
C、格子線掃查
D、中部區(qū)域列線掃查或格子線掃查加坡口預(yù)定線兩側(cè)范圍內(nèi)100%掃查
A、階梯平底試塊
B、φ5平底孔試塊
C、CS2
D、CS3
A、2.5MHz雙晶直探頭
B、4－5MHz雙晶直探頭
C、4－5MHz單晶直探頭
D、5MHz單晶直探頭
A、CSK-ⅡA、CSK-ⅣA
B、GS-1、GS-2、GS-3和GS-4
C、CS2、CS3
D、CSK-IA、DZ-Ⅰ、DB-PZ20－2
A、對(duì)比試塊與被檢件或材料化學(xué)成份相似
B、試塊的外形尺寸能代表被檢工件的特征
C、對(duì)比試塊的厚度與被檢工件厚度相對(duì)應(yīng)，涉及到不同工件厚度對(duì)接接頭檢測(cè)，試塊厚度選擇應(yīng)由其較大工件厚度確定
D、對(duì)比試塊用于儀器探頭性能校準(zhǔn)和檢測(cè)校準(zhǔn)
最新試題
NB/T47013.3-2015標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，檢測(cè)在用螺栓螺紋根部裂紋的方法是（）
按照NB/T47013.3-2015標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，檢測(cè)厚度為20mm的鋼板，應(yīng)選用的探頭是（）
按照NB/T47013.3-2015標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，母材厚度40mm、焊縫寬度25mm的對(duì)接焊接接頭，其檢測(cè)區(qū)寬度為（）
按照NB/T47013.3-2015標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，用K2探頭檢測(cè)壁厚為16mm的管子環(huán)向?qū)雍附咏宇^，探頭移動(dòng)區(qū)的長(zhǎng)度為（）
按照NB/T47013.3-2015標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，檢測(cè)厚度60mm的鋼板，應(yīng)采用的試塊是（）
NB/T47013.3-2015標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，距離—波幅曲線繪制在熒光屏上時(shí)，在檢測(cè)范圍內(nèi)最大聲程處的評(píng)定線高度不應(yīng)低于熒光屏滿刻度的20%。
按照NB/T47013.3-2015標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，鋼板縱波檢測(cè)所用的掃查方式為（）
NB/T47013.3-2015標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，無(wú)縫鋼管超聲波檢測(cè)掃查靈敏度（）
按照NB/T47013.3-2015標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，采用K2探頭檢測(cè)厚度30mm的對(duì)接焊接接頭，探頭移動(dòng)區(qū)為（）
NB/T47013.3-2015標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，無(wú)縫鋼管液浸法超聲檢測(cè)使用的探頭是（）