單探頭法是反射法，雙探頭法都是穿透法。

檢測(cè)面的選擇主要考慮缺陷取向，并結(jié)合工件形狀和檢測(cè)技術(shù)綜合考慮。

實(shí)際探傷中，為提高掃查速度，減少雜波的干擾，應(yīng)將探傷靈敏度適當(dāng)降低。

“靈敏度”意味著發(fā)現(xiàn)小缺陷的能力，因此超聲波探傷靈敏度越高越好。

利用IIW試塊上的φ50孔兩側(cè)面的距離，只能測(cè)定直探頭盲區(qū)的大致范圍。

多次底波法缺陷檢出靈敏度低于缺陷回波法。

縱波直探頭法主要用于檢測(cè)與檢測(cè)面平行的缺陷。

底波高度法經(jīng)常作為缺陷回波法的一種輔助手段。

串列法探傷適用于檢測(cè)垂直于探測(cè)面的平面缺陷。

脈沖重復(fù)頻率的調(diào)節(jié)與被探工件厚度有關(guān)，對(duì)厚度大的工件，應(yīng)采用較低的重復(fù)頻率。