當(dāng)量法用來測量大于聲束截面的缺陷的尺寸。

脈沖重復(fù)頻率的調(diào)節(jié)與被探工件厚度有關(guān)，對厚度大的工件，應(yīng)采用較低的重復(fù)頻率。

多次底波法缺陷檢出靈敏度低于缺陷回波法。

檢測面的選擇主要考慮缺陷取向，并結(jié)合工件形狀和檢測技術(shù)綜合考慮。

CSKⅠA試塊上R100和R50兩個(gè)階梯圓弧面可用來調(diào)節(jié)橫波掃描速度和探測范圍。

實(shí)際探傷中，為提高掃查速度，減少雜波的干擾，應(yīng)將探傷靈敏度適當(dāng)降低。

單探頭法是反射法，雙探頭法都是穿透法。

穿透法靈敏度高于脈沖反射法。

斜探頭前部磨損較多時(shí)，探頭的K值將變小。

利用IIW試塊上的φ50孔兩側(cè)面的距離，只能測定直探頭盲區(qū)的大致范圍。