標(biāo)準(zhǔn)試塊的材質(zhì)應(yīng)盡可能與被檢工件相同或相近。

當(dāng)量法用來測量大于聲束截面的缺陷的尺寸。

測定儀器垂直線性和動態(tài)范圍時，應(yīng)將儀器的“抑制”和“深度補償”旋鈕置于關(guān)的位置。

目前使用最廣泛的超聲測厚儀是脈沖反射式測厚儀。

單探頭法是反射法，雙探頭法都是穿透法。

脈沖反射法可對缺陷定性、定量和定位。

軟保護膜探頭可減少粗糙表面對探傷的影響。

多次底波法缺陷檢出靈敏度低于缺陷回波法。

檢測面準(zhǔn)備的目的是為了保證良好的聲耦合。

CSKⅠA試塊上R100和R50兩個階梯圓弧面可用來調(diào)節(jié)橫波掃描速度和探測范圍。