判斷題利用IIW試塊上的φ50孔兩側(cè)面的距離,只能測定直探頭盲區(qū)的大致范圍。
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測定儀器垂直線性和動態(tài)范圍時,應(yīng)將儀器的“抑制”和“深度補償”旋鈕置于關(guān)的位置。
題型:判斷題
穿透法的最大優(yōu)點是不存在盲區(qū),但小缺陷易漏檢。
題型:判斷題
脈沖重復(fù)頻率的調(diào)節(jié)與被探工件厚度有關(guān),對厚度大的工件,應(yīng)采用較低的重復(fù)頻率。
題型:判斷題
CSKⅠA試塊上R100和R50兩個階梯圓弧面可用來調(diào)節(jié)橫波掃描速度和探測范圍。
題型:判斷題
底波高度法經(jīng)常作為缺陷回波法的一種輔助手段。
題型:判斷題
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題型:判斷題
測定“始脈沖寬度”時,應(yīng)將儀器的靈敏度調(diào)至最大。
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串列法探傷適用于檢測垂直于探測面的平面缺陷。
題型:判斷題
脈沖反射法可對缺陷定性、定量和定位。
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利用IIW試塊上的φ50孔兩側(cè)面的距離,只能測定直探頭盲區(qū)的大致范圍。
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