曲面工件探傷時，探傷面曲率半徑愈大，耦合效果愈好。

“靈敏度”意味著發(fā)現(xiàn)小缺陷的能力，因此超聲波探傷靈敏度越高越好。

底波高度法經(jīng)常作為缺陷回波法的一種輔助手段。

與IIW試塊相比，CSKⅠA試塊的優(yōu)點之一是可以測定斜探頭的分辨力。

CSKⅠA試塊上R100和R50兩個階梯圓弧面可用來調(diào)節(jié)橫波掃描速度和探測范圍。

由于水中只能傳播縱波，所以水浸探頭不能進行橫波探傷。

檢測面的選擇主要考慮缺陷取向，并結(jié)合工件形狀和檢測技術(shù)綜合考慮。

橫波法主要用于檢測與檢測面成一定傾角的缺陷。

多次底波法缺陷檢出靈敏度低于缺陷回波法。

斜探頭前部磨損較多時，探頭的K值將變小。