CSKⅠA試塊上R100和R50兩個階梯圓弧面可用來調(diào)節(jié)橫波掃描速度和探測范圍。

斜探頭中，楔塊的作用是使縱波斜入射到工件中，通過波型轉(zhuǎn)換產(chǎn)生橫波、表面波或板波。

實際探傷中，為提高掃查速度，減少雜波的干擾，應將探傷靈敏度適當降低。

串列法探傷適用于檢測垂直于探測面的平面缺陷。

“靈敏度”意味著發(fā)現(xiàn)小缺陷的能力，因此超聲波探傷靈敏度越高越好。

縱波斜探頭法的優(yōu)點是工件中既有縱波，又有橫波，因此可同時用縱波和橫波進行缺陷檢測。

液浸法的優(yōu)點之一是聲耦合穩(wěn)定，檢測結果重復性好。

單探頭法是反射法，雙探頭法都是穿透法。

多次底波法缺陷檢出靈敏度低于缺陷回波法。

斜探頭楔塊上部和前部開消聲槽的目的是使聲波反射回晶片處，減少聲能損失。