多探頭法是用兩個(gè)以上的探頭同時(shí)工作的檢測(cè)方法。

檢測(cè)面準(zhǔn)備的目的是為了保證良好的聲耦合。

CSKⅠA試塊上R100和R50兩個(gè)階梯圓弧面可用來(lái)調(diào)節(jié)橫波掃描速度和探測(cè)范圍。

脈沖反射法可對(duì)缺陷定性、定量和定位。

當(dāng)量法用來(lái)測(cè)量大于聲束截面的缺陷的尺寸。

多次底波法缺陷檢出靈敏度低于缺陷回波法。

所謂“幻影回波”，是由于探傷頻率過(guò)高或材料晶粒粗大引起的。

標(biāo)準(zhǔn)試塊的材質(zhì)應(yīng)盡可能與被檢工件相同或相近。

利用IIW試塊上的φ50孔兩側(cè)面的距離，只能測(cè)定直探頭盲區(qū)的大致范圍。

實(shí)際探傷中，為提高掃查速度，減少雜波的干擾，應(yīng)將探傷靈敏度適當(dāng)降低。