測定儀器垂直線性和動態(tài)范圍時，應(yīng)將儀器的“抑制”和“深度補償”旋鈕置于關(guān)的位置。

串列法探傷適用于檢測垂直于探測面的平面缺陷。

軟保護膜探頭可減少粗糙表面對探傷的影響。

雙晶直探頭傾角越大，交點離探測面距離愈遠，覆蓋區(qū)愈大。

“靈敏度”意味著發(fā)現(xiàn)小缺陷的能力，因此超聲波探傷靈敏度越高越好。

目前使用最廣泛的超聲測厚儀是脈沖反射式測厚儀。

多次底波法缺陷檢出靈敏度低于缺陷回波法。

CSKⅠA試塊上R100和R50兩個階梯圓弧面可用來調(diào)節(jié)橫波掃描速度和探測范圍。

橫波法主要用于檢測與檢測面成一定傾角的缺陷。

實際探傷中，為提高掃查速度，減少雜波的干擾，應(yīng)將探傷靈敏度適當降低。