標(biāo)準(zhǔn)試塊主要用于檢驗磁粉檢測的系統(tǒng)靈敏度，確定被檢工件的磁化規(guī)范。

退磁就是消除材料磁化后的剩余磁場使其達(dá)到無磁狀態(tài)的過程。

熒光磁粉檢測時，磁痕的評定應(yīng)在暗室或暗處進(jìn)行，暗室或暗處可見光照度應(yīng)不小于20Lx。

JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的水?dāng)嘣囼?，主要是用來檢驗水磁懸液對被檢表面的潤濕性能，只有出現(xiàn)裸露的“水?dāng)唷北砻妫趴梢蚤_始磁粉檢測。

剩磁法不能用于干法檢測。

在不退磁的情況下，周向磁化產(chǎn)生的剩磁比縱向磁化產(chǎn)生的剩磁有更大的危害性。

組合裝配件應(yīng)分解后再進(jìn)行磁粉檢測。

磁場指示器是用于被檢工件表面磁場方向，有效檢測區(qū)及磁化方法是否正確的一種準(zhǔn)確的校驗工具。

JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：兩條或兩條以上缺陷磁痕在同一直線上且間距不大于2mm時，按一條磁痕處理，其長度為兩條磁痕之和加間距。

C型靈敏度試片與A型靈敏度試片使用方法相同，只是C型靈敏度試片能用于狹小部位。