首頁(yè)
題庫(kù)
網(wǎng)課
在線模考
桌面端
登錄
搜標(biāo)題
搜題干
搜選項(xiàng)
0
/ 200字
搜索
判斷題
I0芯片的損壞有可能造成BI0S和南橋芯片不正常工作。
答案:
正確
點(diǎn)擊查看答案解析
手機(jī)看題
你可能感興趣的試題
判斷題
當(dāng)松開(kāi)開(kāi)機(jī)鍵的瞬間,開(kāi)機(jī)鍵被接地,變成低電平。
答案:
錯(cuò)誤
點(diǎn)擊查看答案解析
手機(jī)看題
判斷題
主板上的集成顯卡主要集成在北橋芯片的內(nèi)部。
答案:
正確
點(diǎn)擊查看答案解析
手機(jī)看題
微信掃碼免費(fèi)搜題