A.通過熱設(shè)計(jì)在滿足性能要求下盡可能減少設(shè)備內(nèi)部的熱量
B.通過熱設(shè)計(jì)設(shè)法較少熱阻
C.通過人設(shè)計(jì)能保證設(shè)備在較低溫度條件下,以便減少參數(shù)漂移,保持電性能穩(wěn)定,從而提高可靠性
D.減少設(shè)備的發(fā)熱量
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A.盡可能采用優(yōu)先電路的原則#盡可能簡化的原則
B.盡可能采用新研制的電路
C.盡可能選用未定型的電路
A.嚴(yán)格遵守循序漸進(jìn)的原則
B.正確選取頂事件
C.準(zhǔn)確寫出故障事件方框中的說明
D.正確劃分每個(gè)事件方框的故障類型
A.畫出被研究產(chǎn)品的功能簡圖
B.明確產(chǎn)品FMEA的分析層次和基本過程
C.建立一套系統(tǒng)的全面的標(biāo)準(zhǔn)化的表格
D.進(jìn)行數(shù)據(jù)總結(jié)分析
A.可靠度函數(shù)
B.失效率函數(shù)
C.壽命特征量
D.產(chǎn)品使用情況
A.熱貯備
B.冷貯備
C.溫貯備
D.常貯備
A.正比
B.反比
C.倒數(shù)
D.常數(shù)
A.狀態(tài)枚舉法
B.概率圖解法
C.全概率分解法
D.不交最小路法
A.穩(wěn)定性
B.重要性
C.可靠性
D.物理性
A.方便觀察
B.檢測系統(tǒng)
C.建立數(shù)學(xué)模型
D.產(chǎn)品需要
A.有效性
B.貯存壽命
C.廣義可靠性
D.狹義可靠性
最新試題
研究產(chǎn)品失效的方法目前主要有()。
如已知產(chǎn)品的失效分布函數(shù),則可求出()。
可修復(fù)產(chǎn)品和不可修復(fù)產(chǎn)品的可靠度估計(jì)計(jì)算公式不一樣的。
C=A∩B是()
隨著科學(xué)的發(fā)展,產(chǎn)品可靠性達(dá)到一定的程度時(shí),就可以杜絕產(chǎn)品故障的出現(xiàn)。
累積失效概率等于1減可靠率。
在一般網(wǎng)絡(luò)可靠性模型中,用一定函數(shù)式來表示部件的兩態(tài)對(duì)系統(tǒng)兩態(tài)的影響,這個(gè)函數(shù)式稱為()。
為了提高系統(tǒng)的可靠性,還可以貯備一些單元,以便工作失效時(shí),立即能由貯備單元接替,稱為()。
建立故障樹的應(yīng)注意的問題有()
能對(duì)產(chǎn)品導(dǎo)致電性能改變,材料腐蝕和機(jī)械損傷的影響是()。