A.改變縱波入射角度以得到要求的橫波折射角度
B.通過電脈沖控制改變獨(dú)立晶片的角度
C.用計(jì)算機(jī)控制同步電路
D.改變發(fā)射和接收延時間隔調(diào)節(jié)角度
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A.探頭壓電晶片是一個整體
B.通過改變延時間隔，可以改變聲束焦距長度
C.不適用于復(fù)雜工件的檢測
D.不能進(jìn)行扇形掃描
A.缺陷回波法、底波高度法和多次底波法
B.直射波法、斜射波法和衍射時差法
C.一次波法、一次反射法和板波法
D.以上都對
A.與波速無關(guān)
B.與工件厚度有關(guān)
C.與探頭中心間距有關(guān)
D.與檢測聲波頻率有關(guān)
A.平行于探測面的缺陷
B.與探測面傾斜的缺陷
C.垂直于探測面的缺陷
D.不能用斜探頭檢測的缺陷
A.工件中有小而密集的缺陷
B.工件中有局部晶粒粗大區(qū)域
C.工件中有疏松缺陷
D.以上都有可能
最新試題
調(diào)節(jié)時基線時，應(yīng)使（）同時對準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
超聲波儀時基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度，即（）。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測，儀器顯示缺陷的聲程為S，則缺陷的水平距離l為（）。
縱波直探頭徑向檢測實(shí)心圓柱時，在第一次底波之后，還有2個特定位置的反射波，這種波是（）。
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時，下面敘述中（）是錯誤的。
（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。
（）是影響缺陷定量的因素。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定，而缺陷的大小可由缺陷的面積或（）來表征。
（）可以對管路、管道進(jìn)行長距離檢測。
板波檢測可以發(fā)現(xiàn)（），其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。