A.試品電容量越大,對(duì)試品tgδ和C測(cè)量結(jié)果影響越大
B.試品電容量越大,對(duì)試品tgδ和C測(cè)量結(jié)果影響越小
C.試品電容量大小,對(duì)試品tgδ和C測(cè)量結(jié)果不影響
D.以上均不是
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A.對(duì)無載調(diào)壓繞組,不允許在測(cè)試過程中或未放完電時(shí)切換無載分接開關(guān)
B.在測(cè)試過程中不允許拆除測(cè)試線
C.測(cè)試過程中,外部AC220V突然斷電,應(yīng)立即拆除測(cè)試線
D.測(cè)試過程中,外部AC220V突然斷電,不可以馬上拆除測(cè)試線
A.過電流
B.過電壓
C.過負(fù)荷
D.以上均不是
A.10~30Hz
B.100~400Hz
C.600~1000Hz
D.1000~1500Hz
A.20%;50%
B.1%;5%
C.5%;20%
D.10%;5%
A.反接屏蔽法
B.正接法
C.自激法
D.末端加壓法
最新試題
重大缺陷消缺率和及時(shí)率的要求分別為90%和85%。
采用搖表(或接地電阻測(cè)試儀)由于輸出測(cè)試電流小,不用布放那么長(zhǎng)的電壓線和電流線。
將并聯(lián)有晶閘管閥及其電抗器的電容器串接于輸電線路中,并配有旁路斷路器、隔離開關(guān)、串補(bǔ)平臺(tái)、支撐絕緣子、控制保護(hù)系統(tǒng)等附屬設(shè)備組成的裝置,簡(jiǎn)稱可控串補(bǔ)。
若儀表刻度不均勻,則在分度線較密的部分,讀數(shù)誤差較大,靈敏度也較低。
直流泄漏電流試驗(yàn)?zāi)芊从炒少|(zhì)絕緣的裂紋、夾層絕緣內(nèi)部受潮及局部斷裂、絕緣的沿面炭化等。
交流耐壓試驗(yàn)電壓波形應(yīng)是正弦或接近正弦,兩個(gè)半波應(yīng)完全一樣,且波頂因數(shù)即峰值與有效值之比應(yīng)等于√2±0.07。
GIS耐壓試驗(yàn)之前,進(jìn)行老化(凈化)試驗(yàn)的目的是:使設(shè)備中可能存在的活動(dòng)微粒雜質(zhì)遷移到低電場(chǎng)區(qū),并通過放電燒掉細(xì)小微粒或電極上的毛刺、附著的塵埃,以恢復(fù)GIS絕緣強(qiáng)度,避免不必要的破壞或返工。
交流耐壓試驗(yàn)時(shí),應(yīng)測(cè)量試驗(yàn)電壓的峰值Um,并使Um/√2=標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗(yàn)電壓U(有效值)。
線路用帶串聯(lián)間隙金屬氧化物避雷器,每年根據(jù)運(yùn)行年限和放電動(dòng)作次數(shù)等因素確定抽樣比例,將運(yùn)行時(shí)間比較長(zhǎng)或動(dòng)作次數(shù)比較多的避雷器拆下進(jìn)行預(yù)防性試驗(yàn)。
當(dāng)電力設(shè)備的額定電壓與實(shí)際使用的額定電壓不同時(shí),當(dāng)采用額定電壓較高的設(shè)備以加強(qiáng)絕緣時(shí),應(yīng)按照設(shè)備的額定電壓確定其試驗(yàn)電壓。