多項(xiàng)選擇題

關(guān)于磁頭與盤(pán)片的距離，下列表述正確的是（）。

A.磁頭在不工作時(shí)，是不會(huì)懸浮在盤(pán)片表面的
B.某個(gè)現(xiàn)代機(jī)械硬盤(pán)，工作時(shí)磁頭與盤(pán)片的距離為頭發(fā)直徑的千分之一
C.某個(gè)現(xiàn)代機(jī)械硬盤(pán)，工作時(shí)磁頭與盤(pán)片的距離為10~30微米
D.某個(gè)現(xiàn)代機(jī)械硬盤(pán)不工作時(shí)，磁頭與盤(pán)片的距離略高

你可能感興趣的試題

多項(xiàng)選擇題

關(guān)于缺陷表的說(shuō)法，正確的是（）。

A.相同型號(hào)的硬盤(pán)，缺陷表可以相互替換
B.P-List損壞和G-List損壞相比，前者導(dǎo)致的數(shù)據(jù)問(wèn)題往往更嚴(yán)重
C.相同數(shù)量的缺陷扇區(qū)數(shù)存在于P-List或G-List，相對(duì)連續(xù)讀寫(xiě)而言，P-List缺陷對(duì)性能的影響更小
D.一塊經(jīng)過(guò)工廠(chǎng)嚴(yán)格測(cè)試的硬盤(pán)，也可能有缺陷扇區(qū)

多項(xiàng)選擇題

硬盤(pán)無(wú)法進(jìn)入準(zhǔn)備狀態(tài)就是固件故障，這時(shí)硬盤(pán)的表現(xiàn)可能為（）。

A.BIOS無(wú)法識(shí)別硬盤(pán)
B.BIOS里可以識(shí)別硬盤(pán)型號(hào)，但無(wú)法識(shí)別容量
C.BIOS可以識(shí)別型號(hào)，但容量變小
D.操作系統(tǒng)啟動(dòng)時(shí)提示用戶(hù)密碼錯(cuò)誤

關(guān)于磁頭與盤(pán)片的距離，下列表述正確的是（）。

你可能感興趣的試題

關(guān)于缺陷表的說(shuō)法，正確的是（）。

硬盤(pán)無(wú)法進(jìn)入準(zhǔn)備狀態(tài)就是固件故障，這時(shí)硬盤(pán)的表現(xiàn)可能為（）。

關(guān)于磁頭與盤(pán)片的距離，下列表述正確的是（）。

關(guān)于缺陷表的說(shuō)法，正確的是（）。

硬盤(pán)無(wú)法進(jìn)入準(zhǔn)備狀態(tài)就是固件故障，這時(shí)硬盤(pán)的表現(xiàn)可能為（）。