井壁微電阻率掃描成像儀極板和井壁的間隙增大會（）儀器的垂向分辨率。

簡述VSP 測井影響因素。

泥質(zhì)砂巖地層核磁有效孔隙度應(yīng)小于或等于（）孔隙度。

微電阻率成像三井徑曲線變化正常，除橢圓井眼外，在井眼規(guī)則處應(yīng)（）。

簡述如何根據(jù)聲電成像測井確定現(xiàn)今地應(yīng)力的方向。

井壁微電阻率掃描成像儀器的電扣越小，分辨率（），井壁電阻率掃描圖像越清晰。

在（）的概念中，沉積環(huán)境和沉積巖特征的辯證關(guān)系是：沉積環(huán)境是形成沉積巖特征的決定因素，沉積巖特征則是沉積環(huán)境的物質(zhì)表現(xiàn)。

超聲波成像測井的影響因素為工作頻率、（）、測量距離、目的層的表面結(jié)構(gòu)、目的層的傾角和巖石的波阻抗差異。

在相同的外加磁場中，不同的原子核的進動頻率（）。

核磁共振弛豫受三種機制控制：表面弛豫、體積弛豫和（）。