單項(xiàng)選擇題電流比校核試驗(yàn)中,使用電流表時(shí),應(yīng)使儀表的指示刻度不小于量程的()。

A.1/3
B.2/3
C.1/2
D.1/4


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4.多項(xiàng)選擇題電流比校核中,正確的選項(xiàng)是()

A.現(xiàn)場(chǎng)校核宜采用比較法
B.被試品在試驗(yàn)前,應(yīng)先進(jìn)行其絕緣電阻試驗(yàn),合格后再進(jìn)行電流比校核
C.試驗(yàn)時(shí),電流加在電流互感器一次端子上,在二次端子讀取電流,非測(cè)量繞組需短路接地,升壓必須從零開(kāi)始。試驗(yàn)結(jié)束后,迅速均勻降壓到零,然后切斷電源
D.對(duì)采用一次繞組抽頭改變電流比時(shí),應(yīng)對(duì)使用電流比進(jìn)行校核
E.對(duì)采用二次繞組抽頭改變電流比時(shí),應(yīng)對(duì)最大抽頭進(jìn)行變比校核

5.多項(xiàng)選擇題下列關(guān)于電流比校核試驗(yàn)的描述,正確的是()。

A.電流比校核中,對(duì)采用一次繞組抽頭改變電流比時(shí),應(yīng)對(duì)使用電流比進(jìn)行校核
B.電流比校核中,對(duì)采用一次繞組抽頭改變電流比時(shí),應(yīng)對(duì)每組抽頭進(jìn)行變比校核
C.電流比校核中,對(duì)采用二次繞組抽頭改變電流比時(shí),應(yīng)對(duì)每組抽頭進(jìn)行變比校核
D.電流比校核中,對(duì)采用二次繞組抽頭改變電流比時(shí),應(yīng)對(duì)使用電流比進(jìn)行校核

最新試題

SF6斷路器瓷套管有較嚴(yán)重破損,但破損部位不影響短期運(yùn)行,開(kāi)展()類檢修,停電檢查、更換。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

接地裝置檢修需斷開(kāi)電氣接地連接回路前,應(yīng)做好臨時(shí)()

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

隔離開(kāi)關(guān)專業(yè)操動(dòng)機(jī)構(gòu)巡視時(shí)箱內(nèi)二次元器件()完好。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

構(gòu)支架竣工(預(yù))驗(yàn)收,要求技改擴(kuò)建工程新構(gòu)支架應(yīng)與原構(gòu)支架()一致。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

構(gòu)支架到貨驗(yàn)收,對(duì)其外觀檢查,有無(wú)彎曲、裂紋、撓曲變形、焊縫開(kāi)裂、防腐涂層損傷或漏涂等()缺陷。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

SF6斷路器氣體管道破壞性損傷,管道有裂縫,并導(dǎo)致SF6氣體泄漏,開(kāi)展()類檢修,更換管道。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

SF6斷路器紅外測(cè)溫,引線接頭,溫差不超過(guò)()K,未達(dá)到嚴(yán)重缺陷的要求,開(kāi)展D類檢修。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

斷路器氣動(dòng)機(jī)構(gòu)氣水分離器,不能正常工作,開(kāi)展D類檢修,進(jìn)行()處理。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

鋼構(gòu)件采用()進(jìn)行防腐蝕處理。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

隔離開(kāi)關(guān)安裝時(shí)要求電動(dòng)機(jī)構(gòu)()確已斷開(kāi)。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題