A.K值減小 B.K值增大 C.對(duì)K值無(wú)影響,對(duì)前沿尺寸影響較大 D.對(duì)入射聲波頻率影響較大
A.未焊透 B.未融合 C.無(wú)缺陷 D.探頭雜波
A.橫波端角反射法適于測(cè)量上表面開(kāi)口缺陷 B.用串列式雙探頭法測(cè)量缺陷下端點(diǎn)時(shí)存在死區(qū) C.用端點(diǎn)衍射法可以方便地精確測(cè)定缺陷自身高度 D.6dB法測(cè)量精度高,但操作困難