A.一組鋼平板孔型透度計(jì),厚0.1~0.4mm(0.005~0.015in),內(nèi)含1T,2T,4T 孔
B.透照厚度相當(dāng)于試件的塑料塊,內(nèi)含精加工的孔徑0.1~0.4mm(0.005~0.015in)
C.透照厚度相當(dāng)于試件的塑料塊,內(nèi)含銅絲φ0.1~0.4mm(0.005~0.015in)
D.一組墊片,厚0.1~0.4mm(0.005~0.015in),內(nèi)含1/2T 和1T 孔
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A.投影放大倍數(shù)
B.不清晰度
C.X 射線束的對(duì)準(zhǔn)
D.A 和C
E.以上全是
A.使射線束中心線對(duì)準(zhǔn)焊縫,并垂直于板材平面作一次曝光
B.使射線偏離正交方向±30°,沿V 型坡口方向作兩次曝光
C.使射線束中心線相隔一個(gè)焊縫寬度,且垂直于板面,作兩次曝光
D.按A 布置作單次曝光,但要用兩張膠片對(duì)正交方向偏斜±30°
E.A 和D 都能使射線獲得最佳覆蓋
A.Ir-192,3.7TBq(100Ci)
B.Co-60,925GBq(25Ci)
C.250KVp X 射線機(jī)
D.超聲波儀器
A.銅縮孔
B.微縮孔
C.縮孔
D.細(xì)裂紋
A.靜電電子射線照相
B.射線熒屏檢測(cè)
C.多晶檢測(cè)
D.X 射線衍射檢測(cè)
E.中子射線照相
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最新試題
送檢產(chǎn)品工序狀態(tài)及表面質(zhì)量應(yīng)符合工藝規(guī)程或工藝處理意見(jiàn)的要求,經(jīng)表面檢驗(yàn)合格,申請(qǐng)單無(wú)需檢驗(yàn)蓋章確認(rèn)。
X光檢驗(yàn)組按復(fù)查清單組織復(fù)查,并出具X光底片復(fù)查報(bào)告,復(fù)查無(wú)遺留問(wèn)題方可進(jìn)行試壓。
航天無(wú)損檢測(cè)人員的資格分為三個(gè)等級(jí):Ⅰ級(jí)為初級(jí),Ⅱ級(jí)為中級(jí),Ⅲ級(jí)為高級(jí)。其中Ⅱ級(jí)人員應(yīng)具備的能力有()。
提出有效磁導(dǎo)率的是下列哪位科學(xué)家()
為了提高射線照相對(duì)比度,可以采用高電壓、短時(shí)間、大管電流的方式曝光。
二次打底焊接或重熔排除,無(wú)需辦理相關(guān)手續(xù),直接使用前次的申請(qǐng)手續(xù)。
增加工藝性透視有利于保證焊接質(zhì)量,因此盡可能增加工藝性透視次數(shù)。
一次完整的補(bǔ)焊過(guò)程中缺陷是否排除X光透照確認(rèn)可以不限次數(shù),直至缺陷完全排除。
X射線檢測(cè)圖像直觀、缺陷定性準(zhǔn)確,因此焊接缺陷無(wú)論大小和延伸方向都可以選擇X射線檢測(cè)。
一次完整的兩面多層補(bǔ)焊,當(dāng)正面打底層質(zhì)量進(jìn)行過(guò)一次X射線檢測(cè),若反面還需打底,則無(wú)需X射線檢測(cè)。