支持膜或復(fù)型薄膜不應(yīng)該顯示出（）。

電子探針中能譜儀和波譜儀均需長期置于低溫狀態(tài)。

下列（）不屬于物相定量分析方法。

不存在位錯(cuò)、第二相粒子等缺陷的晶體，稱為理想晶體或者是完整晶體。

盛放被測試樣品的坩堝應(yīng)保證可以與樣品進(jìn)行反應(yīng)。

在三個(gè)假設(shè)的前提下，運(yùn)動(dòng)學(xué)理論在處理衍射強(qiáng)度時(shí)，采用了（）兩個(gè)基本近似。

電子探針的主要作用是用來進(jìn)行（）分析。

衍射線在空間的分布（也就是晶面間距）主要反映（）。

光學(xué)顯微鏡的放大及分辨作用主要由下列（）來擔(dān)當(dāng)，其優(yōu)劣直接決定了顯微鏡的主要光學(xué)性能。

質(zhì)厚襯度與散射物體不同部位的密度和厚度的差異無關(guān)。