單項(xiàng)選擇題

考查閉口閃點(diǎn)的精密度，對于閃點(diǎn)104℃或低于104℃的樣品，應(yīng)滿足（）。

A.重復(fù)性允許差數(shù)為6℃，再現(xiàn)性允許差數(shù)為8℃
B.重復(fù)性允許差數(shù)為8℃，再現(xiàn)性允許差數(shù)為6℃
C.重復(fù)性允許差數(shù)為4℃，再現(xiàn)性允許差數(shù)為2℃
D.重復(fù)性允許差數(shù)為2℃，再現(xiàn)性允許差數(shù)為4℃

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單項(xiàng)選擇題

考查閉口閃點(diǎn)的精密度，對于閃點(diǎn)高于104℃的樣品，應(yīng)滿足（）。

單項(xiàng)選擇題

測定閉口閃點(diǎn)時(shí)，使電熱裝置加熱時(shí)，描述錯(cuò)誤的是（）。

A.閃點(diǎn)低于50℃的試樣，從開始到結(jié)束要不斷攪拌
B.閃點(diǎn)低于50℃的試樣，從開始到結(jié)束溫度每分鐘升高1℃
C.閃點(diǎn)高于50℃的試樣，開始加熱速度要均勻上升
D.閃點(diǎn)高于50℃的試樣，開始加熱時(shí)不需要攪拌

考查閉口閃點(diǎn)的精密度，對于閃點(diǎn)104℃或低于104℃的樣品，應(yīng)滿足（）。

你可能感興趣的試題

考查閉口閃點(diǎn)的精密度，對于閃點(diǎn)高于104℃的樣品，應(yīng)滿足（）。

測定閉口閃點(diǎn)時(shí)，使電熱裝置加熱時(shí)，描述錯(cuò)誤的是（）。

考查閉口閃點(diǎn)的精密度，對于閃點(diǎn)104℃或低于104℃的樣品，應(yīng)滿足（）。

考查閉口閃點(diǎn)的精密度，對于閃點(diǎn)高于104℃的樣品，應(yīng)滿足（）。

測定閉口閃點(diǎn)時(shí)，使電熱裝置加熱時(shí)，描述錯(cuò)誤的是（）。