牛頓環(huán)實(shí)驗(yàn)將測(cè)量式由的主要原因是()
A.為了測(cè)量更加方便 B.消除干涉級(jí)次K的不確定性引起的系統(tǒng)誤差 C.減小測(cè)量的偶然誤差 D.避免了讀數(shù)顯微鏡讀數(shù)的螺距差
A.由于電表存在零點(diǎn)讀數(shù)而產(chǎn)生的誤差 B.由于實(shí)驗(yàn)環(huán)境或操作條件的的微小波動(dòng)所引起的誤差 C.由于實(shí)驗(yàn)者在判斷和估計(jì)讀數(shù)上的變動(dòng)性而產(chǎn)生的誤差 D.由于實(shí)驗(yàn)測(cè)量對(duì)象的自身漲落引起的測(cè)量誤差
A.由于多次測(cè)量結(jié)果的隨機(jī)性而產(chǎn)生的誤差 B.由于測(cè)量對(duì)象的自身漲落所引起的誤差 C.由于實(shí)驗(yàn)者在判斷和估計(jì)讀數(shù)上的變動(dòng)性而產(chǎn)生的誤差 D.由于實(shí)驗(yàn)所依據(jù)的理論和公式的近似性引起的測(cè)量誤差