單項(xiàng)選擇題鍛件中粗大晶粒通常會(huì)引起（）
A.底反射降低或消失
B.較高的“雜波”或噪聲顯示
C.穿透力降低
D.以上都是
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1.單項(xiàng)選擇題在檢驗(yàn)工件時(shí)若無缺陷顯示，則操作者應(yīng)注意底面回波，若底面回波的高度劇烈下降，引起這種情況的原因可能是（）
A.大而平的缺陷與入射聲束取向不良
B.疏松
C.晶粒粗大
D.以上都是
2.單項(xiàng)選擇題在接觸法超聲波縱波垂直入射探傷中，出現(xiàn)底波幅度降低甚至消失的原因可能是（）
A.耦合不良
B.存在與聲束不垂直的缺陷
C.存在被始波遮蔽的近表面缺陷
D.以上都是
4.單項(xiàng)選擇題在一定的檢測靈敏度下，缺陷回波幅度高低取決于（）
A.缺陷尺寸
B.缺陷方位
C.缺陷類型
D.以上都是
5.單項(xiàng)選擇題選擇超聲波檢測的工作頻率時(shí)，主要考慮什么因素（）
A.缺陷檢出能力
B.材料衰減
C.指向性
D.分辨率
E.以上都是
最新試題
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度，即（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
（）可以檢測出與探測面垂直的橫向缺陷。
題型：單項(xiàng)選擇題
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí)，應(yīng)使（）同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
題型：單項(xiàng)選擇題
檢測靈敏度太高和太低對(duì)檢測都不利。靈敏度太低，（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
探頭延檢測面水平移動(dòng)，超聲檢測系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱為（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí)，適用的工件厚度為（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí)，下面敘述中（）是錯(cuò)誤的。
題型：單項(xiàng)選擇題
底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小，操作方便，適用于（）的工件。
題型：單項(xiàng)選擇題
板波檢測可以發(fā)現(xiàn)（），其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。
題型：單項(xiàng)選擇題
縱波直探頭徑向檢測實(shí)心圓柱時(shí)，在第一次底波之后，還有2個(gè)特定位置的反射波，這種波是（）。
題型：單項(xiàng)選擇題