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判斷題X射線熒光光譜分析散射背景內(nèi)標法是用由連續(xù)譜線的散射線構(gòu)成的本底（背景）為內(nèi)標的校正方法。

1.判斷題在X射線熒光分析中內(nèi)標法往往可以采用將樣品制成溶液的形式或以熔劑熔融的方式進行。

2.判斷題波長色散X射線熒光光譜儀的分光晶體對溫度的變化較敏感，溫度變化會引起晶體面間距值的變化，導致譜線的位移。

3.多項選擇題波長色散X熒光光譜儀中用于探測重元素X射線熒光是（）計數(shù)器，用于探測輕元素X射線熒光是（）正比計數(shù)器，封閉式正比計數(shù)器是用于探測限定的幾個元素的X射線熒光。

A.閃爍
B.半導體
C.流氣式
D.光電倍增管

4.多項選擇題能量色散X射線熒光分析儀從多道分析器得到的譜帶必須經(jīng)過譜處理，其中包括（）等，才能得到準確的譜峰和強度。

A.譜平滑
B.背景擬合扣除
C.重疊峰的擬合
D.分離

5.單項選擇題X射線熒光分析連續(xù)X射線中短波限與（）有關(guān)。

A.X光管電流
B.X光管電壓
C.X光管靶材
D.連續(xù)譜