A.Alpha測(cè)試 B.白盒測(cè)試 C.回歸測(cè)試 D.Beta測(cè)試
A.可接受性測(cè)試 B.系統(tǒng)測(cè)試 C.集成測(cè)試 D.單元測(cè)試
A.測(cè)試環(huán)境可能沒(méi)有充足的控制確保數(shù)據(jù)的精確性 B.測(cè)試環(huán)境可能由于使用生產(chǎn)數(shù)據(jù)而產(chǎn)生不精確的結(jié)果 C.測(cè)試環(huán)境的硬件可能與生產(chǎn)環(huán)境的不同 D.測(cè)試環(huán)境可能沒(méi)有充分的訪(fǎng)問(wèn)控制以確保數(shù)據(jù)機(jī)密性