判斷題

觀(guān)察磁粉痕跡時(shí)現(xiàn)場(chǎng)光線(xiàn)應(yīng)明亮，可用亮度較高的燈進(jìn)行觀(guān)察。

答案：正確

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磁粉檢測(cè)法，可用于鐵磁材料的表面和近表面缺陷的檢測(cè)，可用于奧氏體不銹鋼鋁鎂合金制品中的缺陷探傷檢測(cè)。

答案：錯(cuò)誤

當(dāng)采用10位以上的放大質(zhì)量鏡檢查時(shí)，應(yīng)在有裂紋的構(gòu)件表面劃出方格網(wǎng)，進(jìn)行觀(guān)察。

答案：正確