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餅類鍛件最主要探測方向是()
A.直探頭端面探傷
B.直探頭側面探傷
C.斜探頭端面探傷
D.斜探頭側面探傷
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軸類鍛件最主要探測方向是()
A.加熱
B.形變
C.成型
D.冷卻
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鍛件中的粗大晶粒可能引起()
A.底波降低或消失
B.噪聲或雜波增大
C.超聲嚴重衰減
D.以上都有
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