OTDR監(jiān)測(cè)光纖熔接損耗的三種主要方式是（）、（）和（）。

光纜的中繼段測(cè)試又稱為（）測(cè)試。

光纜接頭盒的種類較多，從接續(xù)方式上分為直通接續(xù)接頭盒和（）兩種。

單盤測(cè)試中，光特性參數(shù)包括（）、（）和（）。

造成光纜線路障礙的原因大致可分為外力因素、（）、（）、光纜自身缺陷等四大類。