A.以前的觀測(cè)數(shù)據(jù) B.對(duì)有關(guān)技術(shù)資料和測(cè)量?jī)x器特性的了解和經(jīng)驗(yàn) C.試劑廠家提供的技術(shù)說明書 D.校準(zhǔn)證書 E.檢定證書
A.對(duì)被測(cè)量的定義不完善 B.被測(cè)量的樣本（抽樣）不能代表所定義的被測(cè)量 C.離心的條件和貯存條件 D.日間（或批間）不精密度 E.系統(tǒng)誤差和校準(zhǔn)物的賦值
A.表示測(cè)量結(jié)果中的隨機(jī)誤差大小的程度 B.增加精密度差的測(cè)量系統(tǒng)重復(fù)次數(shù)會(huì)明顯改善系統(tǒng)的精密度 C.精密度可以直接衡量，常用不精密度表達(dá) D.較小的標(biāo)準(zhǔn)差表示有較低的精密度 E.指在一定條件下進(jìn)行多次測(cè)定時(shí)，所得測(cè)定結(jié)果之間的符合程度
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