A.直探頭檢測波高為φ2mm+5dB 評為II 級,B.斜探頭檢測波高為φ1×6-6dB 評為II 級,C.直探頭檢測波高為φ2mm+8dB 評為I 級,D.斜探頭檢測波高為φ1×6-2dB 評為II 級,
A.采用晶片直徑為φ20mm 的探頭對環(huán)縫檢測,對比試塊的曲率半徑應(yīng)在76mm~126mm 之間。B.采用晶片直徑為φ14mm 的探頭對環(huán)縫檢測,對比試塊的曲率半徑應(yīng)在76mm~126mm 之間。C.采用晶片直徑為φ18mm 的探頭對環(huán)縫檢測,對比試塊的曲率半徑可為100mm。D.采用晶片直徑為φ22mm 的探頭對環(huán)縫檢測,對比試塊的曲率半徑可為84mm。
A.掃查靈敏度為φ3-6dBB.用有機玻璃作斜楔時,斜探頭的入射角大致在28° ~57° 之間C.掃查靈敏度為φ2-6dBD.對厚度小于或等于600mm 鍛件檢測時,不考慮材質(zhì)衰減