A.暗室白光照度應(yīng)小于20lx
B.黑光照度不小于1000μW/cm2
C.黑光照度不小于20μW/cm2
D.隨時(shí)對(duì)缺陷做出標(biāo)記和記錄
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A.斷續(xù)條狀缺陷
B.密集小裂紋
C.密集夾渣
D.密集氣孔
A.噴涂法施加，噴嘴離被檢面300-400mm
B.噴涂方向與被檢面夾角為30°-40°
C.在同一地點(diǎn)反復(fù)多次施加顯像劑
D.使用噴灌前要充分搖動(dòng)使顯像劑均勻
A.對(duì)顏色的差別辨別能力提高
B.對(duì)比度的差別辨別能力降低
C.對(duì)光強(qiáng)度的微小差別不敏感
D.對(duì)光強(qiáng)度的微小差別敏感
A.曝光不足
B.顯影溫度低
C.顯影液濃度過大
D.顯影液攪動(dòng)不及時(shí)
A.有顯像劑，有顯示
B.沒有顯像劑，有顯示
C.沒有顯像劑，無顯示
D.有顯像劑，無顯示
最新試題
用雙晶探頭檢測(cè)時(shí)，為增加缺陷顯現(xiàn)次數(shù)和反射幅度，檢測(cè)細(xì)長(zhǎng)缺陷應(yīng)使探頭（）。
無損檢測(cè)設(shè)備、材料采購(gòu)驗(yàn)收內(nèi)容包括（）驗(yàn)收。
磁場(chǎng)信號(hào)測(cè)量中可采用（）方法。
大厚度比試件透照特殊技術(shù)中的補(bǔ)償技術(shù)是指利用（）填補(bǔ)工件的較薄部分，使透照厚度差減小的方法。
滲透檢測(cè)時(shí)，滲入的滲透液有一些被截留在缺陷內(nèi)，將受檢部位置于合適的光源（發(fā)光強(qiáng)度足夠）下檢查時(shí)，下列說法正確的有（）。
表面波檢測(cè)中，利用表面波檢測(cè)（）效果好。
超聲波探傷儀要盡量避免在（）場(chǎng)合使用。
將彎曲液面對(duì)液體的壓強(qiáng)與平面液面對(duì)液體的壓強(qiáng)相比，任何液面膜對(duì)液體施以附加壓強(qiáng)，下面描述正確的是（）。
聚焦聲源發(fā)射的聲場(chǎng)特點(diǎn)是（）。
對(duì)漏磁檢測(cè)原理描述正確的有（）。