1.對下層柵氧化層具有高的選擇比 2.非常好的均勻性和可重復性。 3.高度的各向異性
最新試題
如下哪個選項不是半導體器件制備過程中的主要污染物?()
光刻工藝的特點包括()。
摻雜后退火時間一般在()。
注入損傷與注入離子的以下哪個參數(shù)無關(guān)?()
常壓的硅外延方法有()。
影響封裝芯片特性的溫度有()。
進行光刻工藝前的清洗步驟是()。
封裝工藝中,銀漿固化的溫度為()。
硅烷法制備高純硅的步驟不包括哪一項?()
刻蝕過程中聚合物形成的來源有()。