A.質(zhì)量管理體系運(yùn)行
B.設(shè)備維護(hù)保養(yǎng)計(jì)劃執(zhí)行情況
C.過(guò)程質(zhì)量特性值
D.計(jì)量檢測(cè)系統(tǒng)
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A.生產(chǎn)正常，但點(diǎn)子偶然出界，判異
B.過(guò)程異常，但點(diǎn)子排列未顯示異常，判穩(wěn)
C.錯(cuò)誤使用判穩(wěn)準(zhǔn)則
D.選擇控制圖不當(dāng)
A.（UCL－LCL）/6δ
B.T/6δ
C.（1－K）T/6R
D.（T－M）/3S
A.99.99%
B.99.73%
C.99.86%
D.0.27%
A.描述
B.測(cè)定
C.記錄
D.評(píng)估
A.不合格品率p控制圖
B.均值一極差x-R控制圖
C.中位數(shù)一極差Me-R圖
D.不合格品數(shù)np控制圖
最新試題
正確使用統(tǒng)計(jì)技術(shù)，能達(dá)到早期預(yù)防或及時(shí)提出矯正措施并得以及時(shí)改善的目的。
當(dāng)控制計(jì)劃要求對(duì)相關(guān)工序尺寸進(jìn)行SPC統(tǒng)計(jì)過(guò)程控制時(shí)，公司相關(guān)部門(mén)進(jìn)行圖控制并進(jìn)行過(guò)程能力研究。
σ
R
當(dāng)過(guò)程能力不足時(shí)，為提高過(guò)程能力，應(yīng)進(jìn)一步減小普通原因和特殊原因造成的變差。
Ppk用于批量生產(chǎn)時(shí)對(duì)過(guò)程能力分析，Cpk用于批產(chǎn)前對(duì)過(guò)程能力的分析。
控制計(jì)劃規(guī)定的特殊特性應(yīng)做統(tǒng)計(jì)過(guò)程控制—SPC。
過(guò)程（Process）
P圖控制法適用于對(duì)所有的計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù)做統(tǒng)計(jì)過(guò)程控制。
1924年，美國(guó)的品管大師休哈特（W.A.Shewhart）博士提出將3Sigma原理運(yùn)用于生產(chǎn)過(guò)程當(dāng)中，并發(fā)表了著名的“控制圖法”（亦稱為：Shewhart控制圖或3σ控制圖。即：一種以實(shí)際產(chǎn)品質(zhì)量特性與依過(guò)去經(jīng)驗(yàn)所分析的過(guò)程能力的控制界限比較，而以時(shí)間順序表示出來(lái)的圖形）。通過(guò)對(duì)過(guò)程變差進(jìn)行控制，為統(tǒng)計(jì)質(zhì)量管理奠定了理論和方法基礎(chǔ)。