A.機(jī)器的性能特性
B.擋風(fēng)裝置每個(gè)單位內(nèi)的視覺缺陷
C.方差分析法為基礎(chǔ)的對軸承的改進(jìn)
D.以上回答都對
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A.S形
B.Z形
C.菱形
D.方形的
A.縮小公差
B.減少偏離量
C.降低離散度
D.適當(dāng)加大公差
A.合理確定取樣間隔
B.合理確定子樣容量
C.子樣組數(shù)最好大于25
D.剔除不明原因的異常數(shù)據(jù)
A.強(qiáng)調(diào)統(tǒng)計(jì)分析
B.強(qiáng)調(diào)預(yù)防為主
C.強(qiáng)調(diào)全員參與
D.強(qiáng)調(diào)全檢
A.點(diǎn)子出界
B.環(huán)境改變
C.人員和設(shè)備均變動(dòng)
D.改變工藝參數(shù)或采用新工藝
E.更換供應(yīng)商或更換原材料、零部件
最新試題
沒有超出控制界限的點(diǎn)，過程能力是可接受的。
1924年，美國的品管大師休哈特（W.A.Shewhart）博士提出將3Sigma原理運(yùn)用于生產(chǎn)過程當(dāng)中，并發(fā)表了著名的“控制圖法”（亦稱為：Shewhart控制圖或3σ控制圖。即：一種以實(shí)際產(chǎn)品質(zhì)量特性與依過去經(jīng)驗(yàn)所分析的過程能力的控制界限比較，而以時(shí)間順序表示出來的圖形）。通過對過程變差進(jìn)行控制，為統(tǒng)計(jì)質(zhì)量管理奠定了理論和方法基礎(chǔ)。
重要過程事件（如工具變更，機(jī)器修理等）須摘記于相應(yīng)之控制圖及/或直方圖上。
“σ ”指 （），是用來衡量一個(gè)總數(shù)里標(biāo)準(zhǔn)誤差的統(tǒng)計(jì)單位。
SPC
當(dāng)X-MR圖中有連續(xù)9個(gè)點(diǎn)落在中心線同一側(cè)時(shí)，說明過程處于（）
正確使用統(tǒng)計(jì)技術(shù)，能達(dá)到早期預(yù)防或及時(shí)提出矯正措施并得以及時(shí)改善的目的。
當(dāng)控制圖中有連續(xù)6點(diǎn)上升或下降時(shí)，說明過程處于（）
只有超出USL和LSL才需要采取措施。
做初始能力研究時(shí)，Cp大于1.33，這臺機(jī)器能力可以接受了。