A.是
B.否
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A.最高值與最低值之間的差異
B.標(biāo)準(zhǔn)偏差的平方
C.控過程總變差
D.以上都是
E.以上都不是
A.變異
B.基準(zhǔn)
C.控制圖
D.持續(xù)改進(jìn)
E.以上都不是
A.Type II error
B.Type I error
C.探測(cè)
D.以上都不是
A.正確
B.錯(cuò)誤
A.正確
B.錯(cuò)誤
最新試題
當(dāng)過程能力不足時(shí),為提高過程能力,應(yīng)進(jìn)一步減小普通原因和特殊原因造成的變差。
控制限
Cpk(穩(wěn)定過程的能力指數(shù))
重要過程事件(如工具變更,機(jī)器修理等)須摘記于相應(yīng)之控制圖及/或直方圖上。
特殊特性的選擇應(yīng)由企業(yè)按產(chǎn)品/過程中特性的重要程度來制定,并沒有絕對(duì)的正確與否。
控制計(jì)劃規(guī)定的特殊特性應(yīng)做統(tǒng)計(jì)過程控制—SPC。
當(dāng)控制圖中有連續(xù)14點(diǎn)交替升降時(shí),說明過程處于()
1924年,美國(guó)的品管大師休哈特(W.A.Shewhart)博士提出將3Sigma原理運(yùn)用于生產(chǎn)過程當(dāng)中,并發(fā)表了著名的“控制圖法”(亦稱為:Shewhart控制圖或3σ控制圖。即:一種以實(shí)際產(chǎn)品質(zhì)量特性與依過去經(jīng)驗(yàn)所分析的過程能力的控制界限比較,而以時(shí)間順序表示出來的圖形)。通過對(duì)過程變差進(jìn)行控制,為統(tǒng)計(jì)質(zhì)量管理奠定了理論和方法基礎(chǔ)。
Ppk用于批量生產(chǎn)時(shí)對(duì)過程能力分析,Cpk用于批產(chǎn)前對(duì)過程能力的分析。
PPM(質(zhì)量水準(zhǔn),即每百萬(wàn)零件不合格數(shù))