A.過程打點可能出界
B.過程打點不會出界
C.過程打點一定出界
D.以上都有可能
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A.過程一定處于統(tǒng)計受控狀態(tài)
B.過程一定沒有特殊原因
C.過程可能有特殊原因
D.以上都對
A.多個
B.單獨
C.成對
A.檢驗一個樣本是否來自正態(tài)總體
B.若確定是正態(tài)分布，可估計正態(tài)均值和正態(tài)標(biāo)準(zhǔn)差
C.可用來檢驗一個樣本是否來自對數(shù)正態(tài)分布
D.用來檢驗一個樣本是否來自二項分布
A.過程平均是變化的，可能仍處于變化之中
B.測量系統(tǒng)是變化的
C.這個過程是不變的
D.測量系統(tǒng)是不變的
E.只有A和B
F.只有C和D
A.正確
B.錯誤
最新試題
Ppk用于批量生產(chǎn)時對過程能力分析，Cpk用于批產(chǎn)前對過程能力的分析。
做初始能力研究時，Cp大于1.33，這臺機(jī)器能力可以接受了。
特殊特性的選擇應(yīng)由企業(yè)按產(chǎn)品/過程中特性的重要程度來制定，并沒有絕對的正確與否。
R
重要過程事件（如工具變更，機(jī)器修理等）須摘記于相應(yīng)之控制圖及/或直方圖上。
當(dāng)過程能力較高時，為降低成本，采取方法使之降低。
P圖控制法適用于對所有的計數(shù)型數(shù)據(jù)做統(tǒng)計過程控制。
過程（Process）
1924年，美國的品管大師休哈特（W.A.Shewhart）博士提出將3Sigma原理運(yùn)用于生產(chǎn)過程當(dāng)中，并發(fā)表了著名的“控制圖法”（亦稱為：Shewhart控制圖或3σ控制圖。即：一種以實際產(chǎn)品質(zhì)量特性與依過去經(jīng)驗所分析的過程能力的控制界限比較，而以時間順序表示出來的圖形）。通過對過程變差進(jìn)行控制，為統(tǒng)計質(zhì)量管理奠定了理論和方法基礎(chǔ)。
特殊特性