地質(zhì)樣品采樣方法分為取心法、刻槽法、剝層法、全巷法、連續(xù)打塊法、集束刻線法、方格法、撰取法等。

一般情況下，地質(zhì)界線投影時(shí)，常用壁下、壁頂、坑頂3個(gè)投影繪圖點(diǎn)，這3個(gè)點(diǎn)基本上可以控制（）及坑頂兩個(gè)面上的地質(zhì)要素的基本形態(tài)。

鉆探工程終孔后，應(yīng)按要求進(jìn)行封孔，并做好封孔記錄。一般要求封孔水泥柱進(jìn)入基巖長(zhǎng)度不應(yīng)小于5米，礦體所在部位、礦體頂板以上5米、頂板以下5米應(yīng)封孔。對(duì)封孔質(zhì)量進(jìn)行驗(yàn)證時(shí)，應(yīng)進(jìn)行透孔質(zhì)量檢查，透孔檢查率為5%~10%，若發(fā)現(xiàn)封孔質(zhì)量存在問(wèn)題，應(yīng)進(jìn)行重新封孔。

采用米·克/噸值圈定礦體時(shí)可以外推（以米·克/噸值圈定的薄脈型礦體除外）。

分礦床勘查類型和確定勘查工程間距時(shí)，應(yīng)依據(jù)主要礦體規(guī)模、主要礦體形態(tài)及內(nèi)部結(jié)構(gòu)、礦床構(gòu)造影響程度、主礦體厚度穩(wěn)定程度和有用組分分布均勻程度等五個(gè)主要地質(zhì)因素來(lái)確定。

沿脈坑道中圈定礦體時(shí)，無(wú)礦地段的剔除標(biāo)準(zhǔn)一般為上下工程對(duì)應(yīng)時(shí)為10~15米，工程不對(duì)應(yīng)時(shí)為20~30米。

地質(zhì)填圖中按照填圖精度要求的觀察路線距離，垂直（或大致垂直）巖層走向布置觀察路線，觀察路線要根據(jù)填圖精度和基巖出露情況考慮點(diǎn)距和線距。

鉆探工程的目的是驗(yàn)證、追索、控制礦（化）體在深部賦存的規(guī)模、形態(tài)、產(chǎn)狀、厚度和有用組分的變化；調(diào)礦（化）體之間、礦（化）體與地層、構(gòu)造、巖漿巖的相互關(guān)系，為進(jìn)一步勘查、坑道掘進(jìn)和礦山建設(shè)設(shè)計(jì)提供地質(zhì)依據(jù)。

礦體分層厚度及夾石剔除厚度，以設(shè)計(jì)或該礦種勘查規(guī)范推薦的工業(yè)指標(biāo)為準(zhǔn)，凡圖面上（）1mm的礦（化）體層、礦石類型應(yīng)放大表示。

地質(zhì)編錄只包括現(xiàn)場(chǎng)編錄。