坑道方向變化或坡度改變?cè)?5°以上時(shí)，應(yīng)（）編錄。

單工程礦體的圈定主要依據(jù)邊界品位、最低工業(yè)品位、有害組分平均允許最高含量、夾石剔除厚度、最小可采厚度或最低工業(yè)米*百分值（米*克/噸值）等綜合考慮，同時(shí)應(yīng)注意礦體的劃分問(wèn)題。

槽探、井探、坑探工程中通常采用刻槽法取樣。一般樣槽斷面規(guī)格：銅、鉛、鋅、鎳、鉬礦5cm*3cm或10cm*3cm。

槽、井、坑探取樣，通常為刻槽法，其斷面規(guī)格原則上要進(jìn)行試驗(yàn)確定。

地質(zhì)樣品采樣方法分為取心法、刻槽法、剝層法、全巷法、連續(xù)打塊法、集束刻線(xiàn)法、方格法、撰取法等。

為了與采樣平面圖及地質(zhì)圖等對(duì)應(yīng)，素描時(shí)，一般圖的左側(cè)方位角為（），右側(cè)為0°~180°。

各探礦工程中，按礦化類(lèi)型、夾石連續(xù)分段取樣，并控制礦體頂、底板界線(xiàn)。

按坑道與礦體關(guān)系，分為穿脈坑道（簡(jiǎn)稱(chēng)穿脈）及沿脈坑道（簡(jiǎn)稱(chēng)沿脈）。穿脈橫向揭穿礦體，沿脈順礦體走向，其中在礦體內(nèi)部的稱(chēng)脈內(nèi)沿脈，在礦體頂、底板圍巖中的稱(chēng)脈外沿脈。

沿脈編錄如果與穿脈一致，需在編錄結(jié)束素描掌子面，如果只編頂板，需（）編一次掌子面。

一般情況下，地質(zhì)界線(xiàn)投影時(shí)，常用壁下、壁頂、坑頂（）個(gè)投影繪圖點(diǎn)。