電子探針的主要作用是用來進(jìn)行（）分析。

微觀形貌分析主要借助各種顯微技術(shù)來認(rèn)識(shí)材料的微觀結(jié)構(gòu)。

電子探針中能譜儀和波譜儀均需長期置于低溫狀態(tài)。

衍射線在空間的分布（也就是晶面間距）主要反映（）。

電子探針做定量分析時(shí)一般不需要進(jìn)行修正。

不存在位錯(cuò)、第二相粒子等缺陷的晶體，稱為理想晶體或者是完整晶體。

受力流動(dòng)成型和自由流動(dòng)成型方式均是在物料流動(dòng)狀態(tài)下進(jìn)行，區(qū)別在于有無外力作用。

支持膜或復(fù)型薄膜不應(yīng)該顯示出（）。

樣品質(zhì)量偏大可能會(huì)造成失重曲線向高溫方向偏移。

盛放被測(cè)試樣品的坩堝應(yīng)保證可以與樣品進(jìn)行反應(yīng)。