A、超聲波探傷 B、磁粉探傷 C、X射線探傷 D、著色檢驗
A、不接地線 B、接地線 C、不一定接 D、根據(jù)需要接
A、虹吸現(xiàn)象 B、熱發(fā)現(xiàn)象 C、毛細現(xiàn)象 D、軸電流