A、通斷
B、電感
C、電容
D、電壓
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A、2圈
B、5圈
C、10圈
D、16圈
A、過(guò)慢
B、均勻
C、不均勻
D、不變
A、鎧裝
B、絕緣
C、內(nèi)
D、滾筒底
A、斷芯
B、腐蝕
C、擠壓變形
D、磨損
A、成正比
B、成反比
C、成對(duì)數(shù)關(guān)系
D、無(wú)關(guān)
最新試題
EMRT儀器常用模式有三種供選擇,分別是()
感應(yīng)測(cè)井儀器在儲(chǔ)層電阻率低于20Ω·m時(shí)響應(yīng)較好,適應(yīng)于()
隨鉆核磁測(cè)井前應(yīng)獲取的環(huán)境參數(shù)有()
微球形聚焦測(cè)井資料主要用途有()
假設(shè)某隨鉆測(cè)井儀器采樣時(shí)間為6s,如果內(nèi)存數(shù)據(jù)按照每隔半英尺一個(gè)測(cè)井?dāng)?shù)據(jù)點(diǎn)計(jì)算,要保證該工具內(nèi)存數(shù)據(jù)的完整準(zhǔn)確,該工具的測(cè)井最高速度應(yīng)為()m/h。
某井段一套砂巖地層,自上而下,SP異常幅度逐漸減小,自然伽馬幅度逐漸增大、電阻率逐漸減小,最有可能的原因?yàn)椋ǎ?/p>
簡(jiǎn)述測(cè)井作業(yè)現(xiàn)場(chǎng)質(zhì)量控制對(duì)曲線精度的要求。
貝克休斯隨鉆高分辨電阻率成像StarTrak電阻率探測(cè)深度可達(dá)到()in。
通常井眼擴(kuò)徑或者測(cè)量間距增大,會(huì)導(dǎo)致隨鉆密度值()、中子值()
取心過(guò)程中,造成巖心直徑粗細(xì)不均勻的主要原因是()