貝克休斯隨鉆高分辨電阻率成像StarTrak電阻率探測(cè)深度可達(dá)到（）in。

隨鉆測(cè)壓的資料可用于確定（）

隨鉆核磁測(cè)井前應(yīng)獲取的環(huán)境參數(shù)有（）

造成常規(guī)隨鉆測(cè)井資料中，曲線間出現(xiàn)深度誤差的原因有哪些？

電測(cè)作業(yè)時(shí)的如何做好井控工作？

感應(yīng)測(cè)井儀器在儲(chǔ)層電阻率低于20Ω·m時(shí)響應(yīng)較好，適應(yīng)于（）

對(duì)于雙側(cè)向儀器EDLT，下列說法正確的是（）

通常井眼擴(kuò)徑或者測(cè)量間距增大，會(huì)導(dǎo)致隨鉆密度值（）、中子值（）

簡(jiǎn)述測(cè)井作業(yè)現(xiàn)場(chǎng)質(zhì)量控制對(duì)曲線精度的要求。

形成井漏的必要條件有哪些（）