判斷題

通過測量電阻性電流IR與電容性電流IQ之和可以判斷絕緣介質(zhì)在交流電壓作用下的損耗情況稱為介質(zhì)損耗角正切值。

答案：錯(cuò)誤

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直流泄漏電流測量及直流耐壓試驗(yàn)比絕緣電阻表測量絕緣電阻更易發(fā)現(xiàn)某些絕緣缺陷。

答案：正確

通過測量介質(zhì)損耗角正切值可以檢查被試品是否存在絕緣受潮和劣化等缺陷。

答案：正確