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進(jìn)行工頻耐壓試驗(yàn)采用移卷調(diào)壓器調(diào)壓時(shí),由于其空載電流及漏抗較大,往往會(huì)造成試驗(yàn)變壓器輸出電壓波形畸變。
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判斷題
當(dāng)采用QS1型西林電橋,以低壓電源、CN=0.01μF進(jìn)行測(cè)量時(shí),其Cx的可測(cè)范圍是300pF~1000μF。
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判斷題
電壓、電流的波形發(fā)生畸變時(shí),通常用其基波有效值F1與整個(gè)波形的有效值F的比值來(lái)描述其畸變程度,稱為該波形的畸變率kd,即kd=F1/F。
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