A.基本功能的測(cè)試和性能測(cè)試同時(shí)進(jìn)行 B.先執(zhí)行性能測(cè)試,然后再進(jìn)行基本功能的測(cè)試 C.先進(jìn)行基本功能的測(cè)試,然后再執(zhí)行性能測(cè)試 D.基本功能測(cè)試和性能測(cè)試哪個(gè)先執(zhí)行都無(wú)所謂
A.探索性測(cè)試 B.錯(cuò)誤推測(cè) C.白盒測(cè)試 D.黑盒測(cè)試
A.測(cè)試的設(shè)計(jì)可以用80-20規(guī)則作為指導(dǎo)。 B.測(cè)試后程序中殘存的錯(cuò)誤數(shù)目與該程序中已發(fā)現(xiàn)的錯(cuò)誤數(shù)目成正比 C.應(yīng)該在測(cè)試工作真正開始前的較長(zhǎng)時(shí)間內(nèi)進(jìn)行測(cè)試計(jì)劃 D.測(cè)試的效果由測(cè)試用例的多少及規(guī)定的覆蓋指標(biāo)確定