A.獨(dú)立測(cè)試通??梢愿咝У匕l(fā)現(xiàn)軟件缺陷和軟件存在的失效 B.軟件測(cè)試往往需要與軟件開(kāi)發(fā)不同的思維方式 C.測(cè)試通常被認(rèn)為是破壞性的活動(dòng),而軟件開(kāi)發(fā)通常被認(rèn)為是建設(shè)性的活動(dòng) D.獨(dú)立測(cè)試只可應(yīng)用在高級(jí)別的測(cè)試活動(dòng)中,如系統(tǒng)測(cè)試和驗(yàn)收測(cè)試
A.測(cè)試員在測(cè)試過(guò)程發(fā)現(xiàn)了軟件的錯(cuò)誤,所以軟件的錯(cuò)誤是測(cè)試員造成的 B.測(cè)試過(guò)程中沒(méi)有發(fā)現(xiàn)錯(cuò)誤,所以可以認(rèn)為在軟件中不存在缺陷 C.通過(guò)測(cè)試可以知道軟件內(nèi)總共有多少缺陷 D.測(cè)試可以顯示缺陷的存在,但不能證明系統(tǒng)不存在缺陷
A.測(cè)試計(jì)劃和控制階段 B.測(cè)試結(jié)束活動(dòng) C.測(cè)試實(shí)現(xiàn)和執(zhí)行階段 D.評(píng)估出口準(zhǔn)則和測(cè)試總結(jié)報(bào)告階段