A.根據(jù)探測(cè)范圍選擇適當(dāng)厚度的試塊,以一次底回波設(shè)定
B.根據(jù)探測(cè)范圍選擇適當(dāng)厚度的試塊,以兩次以上底
C.可以按被檢材料聲速設(shè)定,而不需要使用試塊
D.以上都可以
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A.可以利用被檢件底面回波調(diào)整時(shí)基線;
B.利用兩次或兩次以上回波作為基準(zhǔn)回波;
C.調(diào)整時(shí),應(yīng)同時(shí)校正零位;
D.以上都是。
A.已知厚度的大平底零件
B.標(biāo)準(zhǔn)試塊
C.對(duì)比試塊
D.以上都可以
A.20mm
B.50mm
C.100mm
D.200mm
A.試塊比較
B.試塊計(jì)算
C.AVG曲線
D.以上都可以
A.聲程標(biāo)定法
B.水平標(biāo)定法
C.深度標(biāo)定法
D.以上都是
最新試題
超聲檢測(cè)對(duì)缺陷定位時(shí),()不是影響缺陷定位的主要因素。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn),說(shuō)法錯(cuò)誤的是()。
()是影響缺陷定量的因素。
用橫波斜探頭檢測(cè),找到缺陷最大回波后,探頭所在截面及()可以確定缺陷位置。
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。
測(cè)長(zhǎng)法是根據(jù)測(cè)長(zhǎng)缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來(lái)確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度稱為缺陷的()。
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長(zhǎng)工件上時(shí),在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。
儀器水平線性影響()。