填空題

在惠斯登電橋測(cè)電阻的實(shí)驗(yàn)中,對(duì)調(diào)已知電阻R和待測(cè)電阻Rx的位置再測(cè)量一次是為了()

答案: 減小測(cè)量誤差
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誤差按其性質(zhì)分類,可分為()、()、()。

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