A.缺陷的檢出能力與磁軛鐵芯的磁通量有關(guān)
B.直流電磁軛適用于檢測(cè)厚板
C.磁極周圍有盲區(qū)，磁極與工件間的間隙愈大，盲區(qū)愈大
D.發(fā)現(xiàn)工件上耳孔周圍輻射狀裂紋，最佳方法用磁軛法
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A.每次磁化只準(zhǔn)磁化一個(gè)工件
B.鋼管外壁比內(nèi)壁靈敏度高
C.銅棒盡量放在管子中心軸線磁化
D.芯棒允許使用膠木絕緣棒
A.螺管線圈內(nèi)部中心軸線上的磁場(chǎng)強(qiáng)度線圈中心與端部的一樣大
B.螺管線圈內(nèi)部的磁力線方向與中心軸線大體上平行
C.螺管線圈中心軸線上兩端處的磁場(chǎng)強(qiáng)度為線圈中心的1/2左右
D.螺管線圈橫截面上的磁場(chǎng)強(qiáng)度，中心小而靠?jī)?nèi)壁處最大
最新試題
缺陷相對(duì)反射率即缺陷反射聲壓與基準(zhǔn)反射體聲壓之比。
當(dāng)探頭的性能不佳時(shí)出現(xiàn)兩個(gè)主聲束，發(fā)現(xiàn)缺陷時(shí)很難判斷是哪個(gè)主聲束發(fā)現(xiàn)的，因此也就難以確定缺陷的實(shí)際位置。
橫波檢測(cè)平板對(duì)接焊縫根部未焊透等缺陷時(shí)，不同K值探頭檢測(cè)同一根部缺陷，其回波高相差不大。
非金屬夾雜等缺陷的聲阻抗與鋼的聲阻抗相差很小，聲波在缺陷上的透射和吸收明顯高于白點(diǎn)和氣孔等缺陷。
水浸聚焦探頭是由外殼、阻尼塊、晶片、聲透鏡等組成。
高溫探頭前面殼體與晶片之間采用特殊釬焊，使之形成高溫耦合層。
爬波在自由表面的位移有垂直分量，但不是純粹的表面波。
高溫探頭的外殼與阻尼塊為不銹鋼，電纜為無(wú)機(jī)物絕緣體高溫同軸電纜。
當(dāng)探頭與被檢工件表面耦合狀態(tài)不同時(shí)，而又沒有進(jìn)行適當(dāng)?shù)难a(bǔ)償，會(huì)使定量誤差增加，精度下降。
動(dòng)態(tài)范圍的最小信號(hào)可能受到放大器的飽合或系統(tǒng)噪聲的限制。